ELECO`2003  3TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERING PAPERS 
	
	Neural Network Based Transistor Modeling and Aspect Ratio Estimation for Yital 1.5 Micron Process 
 | 
 
	Bildiri Türü:  | 
	 Sözlü Bildiri
  | 
 
	Anahtar Sözcükler:  | 
	 | 
 
 
  
    
        
            
                
                    
                        
                              | 
                        
                             Bildiri Dosyası  | 
                     
                 
             | 
         
     
    
	
		  | 
		 (216 KB) | 
	 
 
  
 BİLDİRİ LİSTESİNE GERİ DÖN 
 |